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镀层测厚仪Thick880是实谱科技的核心产品之一,是利用x射线荧光技术解决镀层厚度分析的检测仪器。
优势和特点
*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人文字化界面
*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创新型功能
*机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的精确结果
*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心
*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享
*有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用
先进的技术
*独特的 Peltier 电制冷进口检测器
*数字脉冲处理 (DPP) 技术
*基本参数 (FP) 无标样分析方法
*高文字能、多元素分析
功能强大、易于使用的元素分析软件
无标和半无标分析
基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
多层厚度及成分
不限元素、不限数量的标样
利用自动化操作实现多个激发条件
可应用于
*合金分析
*镀层厚度分析
*电镀液金属离子分析
*磁文字介质和半导体元素分析
*土壤污染元素分析
*过滤器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析
特别提示:以上金属镀层测厚仪Thick880的供应由苏州实谱信息科技有限公司自行免费发布,仅供参考。该金属镀层测厚仪Thick880产品信息的真实性、准确性及合法性未证实。请谨慎采用,风险自负。如需了解更多关于金属镀层测厚仪Thick880的产品规格型号及批发价格或产品图片等详细参数说明资料;您可以进入苏州实谱信息科技有限公司网站咨询。
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